सेंसर: | डिजिटल टाइप कंटूर सेंसर और स्टैंडर्ड नो-हेड रफनेस सेंसर | सॉफ्टवेयर: | सीएमएस समोच्च माप प्रणाली और आरएमडब्ल्यू सतह खुरदरापन माप और विश्लेषण प्रणाली |
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आवेदक: | जोड़ा हाथ असर, ऑप्टिकल ग्रेड जर्मेनियम क्रिस्टल, सील की अंगूठी, टर्बो सील आदि | जेड एक्सिस: | 320 मिमी |
X- अक्ष: | 100 मिमी | Z1 रैखिक परिशुद्धता¹: | ±(1.5+|0.2H|)μm |
आर्क: | ±(1.5+|0.2H|)μm | कटऑफ तरंगदैर्ध्य: | 0.025,0.08,0.25,0.8,2.5,8mm |
हाई लाइट: | जोड़ा हुआ असर कंटूर मापने का उपकरण,खुरदरापन कंटूर मापने का उपकरण,100 मिमी खुरदरापन मापने वाला उपकरण |
उत्पाद वर्णन
खुरदरापन प्रोफ़ाइल माप विश्लेषण आधार
सभी सतहों के मापन योग्य तत्वों में आकार, आकार, खुरदरापन और लहराती शामिल हैं।कई हाई-प्रोफाइल घटकों को उपरोक्त सभी तत्वों का विश्लेषण करने की आवश्यकता है।
आयाम: त्रिज्या, कोण, दूरी और सुविधाओं के बीच रैखिक संबंध द्वारा परिभाषित सतह कार्यात्मक आकार।
आकार: सतह के लक्ष्य आकार (विमान, गोले, शंकु, आदि) से विचलन, आमतौर पर मशीन की त्रुटि के कारण होता है
खुरदरापन: काटने के उपकरण या मशीनिंग प्रक्रियाओं जैसे कारकों के कारण होता है
लहराती: कंपन, अपर्याप्त कठोरता या प्रक्रिया में अन्य अस्थिर कारकों के कारण गैर-आदर्श मशीन प्रभाव
एसपीआर1000 सीरीज
विशेषताएं: मानक प्रकार, उपयोग की कम लागत।
एक डिजिटल समोच्च सेंसर और एक आगमनात्मक मानक खुरदरापन सेंसर दोहरे सेंसर का उपयोग करके, समोच्च और खुरदरापन को मापने के लिए एक मशीन का उपयोग किया जा सकता है।
मापने का मामला
आर्टिक्यूलेटेड आर्म बेयरिंग ऑप्टिकल ग्रेड जर्मेनियम क्रिस्टल
सील की अंगूठी टर्बो सील
अनुशंसित आकार
विशिष्टता संख्या | PR1103G-sdk |
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माप सीमा | X- अक्ष | 100 मिमी |
जेड एक्सिस | 320 मिमी |
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जेड 1 अक्ष | सी: ± 12.5 मिमी / आर: ± 420μm |
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समोच्च सटीकता | Z1 रैखिक परिशुद्धता1 | ±(1.5+|0.2H|)μm |
आर्क | ± (2+आर/8)μm |
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कोण | ±2′ |
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सीधा | 0.8μm / 100mm |
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खुरदरापन सटीकता | रैखिक परिशुद्धता | ±4% |
अवशिष्ट शोर | ≤0.02μm |
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डुप्लीकेट मान | 1δ≤2एनएम |
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कटऑफ तरंगदैर्ध्य | 0.025,0.08,0.25,0.8,2.5,8mm |
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रेटिंग लंबाई | cX2,3,4,5,6,7 |
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ड्राइव की गति | X- अक्ष | 0.1 ~ 10 मिमी / एस |
जेड एक्सिस | 0.5-10mm/s |
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मापन समारोह | प्रोफ़ाइल | विभिन्न प्रकार की वर्कपीस सतहों के रेखा तत्व, बिंदु विशेषताएं, बिंदुओं और बिंदुओं के बीच की दूरी, रेखाओं और रेखाओं के बीच की दूरी, दूरी, समानांतरवाद, लंबवतता, कोण, नाली की गहराई, नाली की चौड़ाई, त्रिज्या सहित प्रत्येक तत्व की स्थिति, सीधा विश्लेषण किया जा सकता है , उत्तलता विश्लेषण, प्रोफ़ाइल विश्लेषण |
बेअदबी | खुरदरापन समारोह: रा, आरपी, आरवी, आरजे (जिस), आर 3 जेड, आरजेडआईएन, आरजेजे, रमाज, आरसी, आरटी, आरक्यू, रुपये, आरकेयू, रुपये, रुपये, रुपये, रुपये, आरके, आरपीके, आरवीके, श्री 1, श्री 2, Rmr लहराती पैरामीटर: Wa, Wt, Wp, Wv, Wz, Wq, Wsm, Wsk, Wku, Wmr मूल समोच्च पैरामीटर: Pa, Pt, Pp, Pv, Pz, Pq, Psm, Psk, Pku, Pmr |
● रेल यात्रा: 100-150 मिमी
● संख्या अंतराल: 0.2 ~ 2μm
कंटूर स्ट्रेटनेस: 0.5µm/100mm
खुरदरापन अवशिष्ट मूल्य: ≤0.02µm
● अधिकतम गतिमान गति: 10mm/s
न्यूनतम माप गति:0.1mm/s
● फ़ीचर विवरण: मानक ड्राइव, प्रदर्शन भाग-स्तरीय समोच्च माप सटीकता की आवश्यकताओं को पूरा कर सकता है, खुरदरापन सेंसर 0.1 माइक्रोन से अधिक रा की माप आवश्यकताओं को पूरा कर सकता है
कॉलम सदस्य: सीएनएस मानक प्रकार कॉलम / सीएनएसएल मानक प्रकार लंबा कॉलम
(अपनी आवश्यकताओं के अनुसार चुन सकते हैं)
रेंज: 320 ~ 420 मिमी / 520 ~ 620 मिमी
● अधिकतम गतिमान गति: 10mm/s
न्यूनतम चलती गति: 0.5 मिमी / एस
पोजिशनिंग सटीकता: 0.01 मिमी
● फ़ीचर विवरण: लाइटवेट डिज़ाइन, फ़्रेम-टाइप कॉलम, विरूपण के बिना दीर्घकालिक उपयोग
प्लेटफार्म घटक: एमपीएम एकीकृत मानक मशीन
सामग्री:संगमरमर
● विशिष्टता: 500 * 800,500 * 1000
● फ़ीचर विवरण: एक-टुकड़ा डिज़ाइन, कॉम्पैक्ट संरचना, आसान रखरखाव और बचत
संपर्क-प्रकार खुरदरापन मीटर के साथ, सतह खुरदरापन को लक्ष्य की सतह पर जांच का पता लगाकर मापा जाता है.इसके विपरीत, एक लेजर-आधारित गैर-संपर्क खुरदरापन मीटर लक्ष्य पर एक लेजर बीम का उत्सर्जन करता है और खुरदरापन को मापने के लिए परावर्तित प्रकाश का पता लगाता है
एक खुरदरापन परीक्षकसामग्री की सतह बनावट या सतह खुरदरापन को जल्दी और सटीक रूप से निर्धारित करने के लिए उपयोग किया जाता है।एक खुरदरापन परीक्षक मापा खुरदरापन गहराई (Rz) के साथ-साथ माइक्रोमीटर या माइक्रोन (µm) में माध्य खुरदरापन मान (Ra) दिखाता है।
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हमारे ग्राहक और एजेंट
सामान्य प्रश्न |
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![]() कुछ टूटने योग्य भागों पर बहुत सुधार हुआ।आप हमारे उत्पाद की गुणवत्ता के बारे में निश्चिंत हो सकते हैं। |