लेजर स्कैनर और सीसीडी मापन प्रणालियों के लिए एकीकृत 2डी/3डी मेट्रोलॉजी सॉफ्टवेयर

रैशनल व्यू 2 डी / 3 डी कंपाउंड माप सॉफ्टवेयर श्रृंखला सार्वभौमिक और शक्तिशाली 2 डी / 3 डी माप क्षमताएं प्रदान करती है। यह बिंदुओं, रेखाओं सहित बुनियादी तत्वों का व्यापक माप प्रदान करती है,कोणों, सर्कल, दूरी, और अधिक.बड़े पैमाने पर उत्पादन वातावरण में अधिकतम माप दक्षता सुनिश्चित करने के लिए मजबूत किनारे का पता लगाने की कार्यक्षमता और सरलीकृत प्रोग्रामिंग के साथ संयुक्त.

यह उन्नत दृष्टि मापने वाला सॉफ्टवेयर सेल फोन, प्लास्टिक उत्पादों, इलेक्ट्रॉनिक्स और अन्य उद्योगों के लिए आदर्श रूप से उपयुक्त है, जिन्हें बड़े पैमाने पर उत्पादन और सख्त गुणवत्ता नियंत्रण की आवश्यकता होती है।शक्तिशाली 3 डी माप कार्यक्षमता सटीक 3 डी आयामी माप की आवश्यकता वाले जटिल भागों के लिए एक आवश्यक उपकरण के रूप में कार्य करती है.

RationalVue सीसीडी, जांच और लेजर प्रणालियों में सही निर्देशांक, कार्यक्रम और डेटा एकीकरण को सक्षम करता है।यह एक ही निर्देशांक प्रणाली के भीतर जांच के बीच स्वतंत्र स्विच के साथ उत्पाद माप की अनुमति देता हैमिश्रित माप पद्धति से घटकों की असेंबली के समय में कमी आती है और लागत में बचत करते हुए और स्थान की आवश्यकता को कम करते हुए माप की दक्षता में काफी वृद्धि होती है।